W dniach 17-18 czerwca 2026 r. w Świętokrzyskim Kampusie Laboratoryjnym Głównego Urzędu Miar w Kielcach odbyły się Warsztaty Metrologiczne MetroTech organizowane w ramach drugiej edycji projektu Polskiej Unii Metrologicznej na lata 2024-2026. W wydarzeniu uczestniczyli młodzi naukowcy z Katedry Konstrukcji Maszyn Politechniki Rzeszowskiej, a także z Politechniki Lubelskiej, Akademii Górniczo-Hutniczej w Krakowie, Politechniki Świętokrzyskiej i Uniwersytetu Radomskiego.
Program warsztatów obejmował zajęcia teoretyczne i praktyczne poświęcone nowoczesnym metodom pomiarowym oraz wykorzystaniu sztucznej inteligencji w metrologii. Pierwszego dnia uczestnicy wzięli udział w szkoleniach dotyczących interferometrii laserowej, analizy morfologii powierzchni z wykorzystaniem AI oraz narzędzi CLI opartych na sztucznej inteligencji, wspierających pracę metrologów.
Drugiego dnia odbyło się zwiedzanie Świętokrzyskiego Kampusu Laboratoryjnego Głównego Urzędu Miar, podczas którego uczestnicy mogli zapoznać się z nowoczesną infrastrukturą badawczą. Program uzupełniły zajęcia poświęcone mikrotomografii komputerowej wspomaganej sztuczną inteligencją oraz zastosowaniu AI w pomiarach współrzędnościowych.
Warsztaty MetroTech stanowiły cenną okazję do poszerzenia wiedzy z zakresu współczesnej metrologii oraz poznania praktycznych zastosowań nowoczesnych technologii pomiarowych. Uczestnicy mieli możliwość bezpośredniego kontaktu z ekspertami oraz nowoczesną aparaturą badawczą.
Szczegóły Warsztatów Metrologicznych dostępne na stronie: https://pum.pollub.pl/aktualnosci/mlodzi-naukowcy-i-studenci-z-calej-polski-spotkali-sie-na-warsztatach-metrologicznych-258.html
